keysight半导体测试解决方案

是德科技4080 系列参数测试系统

一个高吞吐量参数测试系统，具有先进的并行测试功能和高速电容测量选件，并且符合 SEMI 标准。

l  产品特点

Keysight 4080 系列提供了丰富的测量功能，可以充分满足基本参数测试的要求。 您可以轻松执行 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流和电容测量。 4080 系列可支持三种类型的 SMU（源表模块）进行直流测量。 数字电压表（DVM）、频谱分析仪和 LCD 表等多种其他仪表选件可进一步增强测量功能。

²  参数测试系统兼容 SPECS 和 4070 系列，为业界树立测量新标杆

²  异步和同步并行测试功能可将吞吐量提升最多 50%

²  更灵活的配置：标准小电流和超小电流（12 至 48 引脚）

²  符合 SEMI 标准，有助于实现测试自动化

²  采用 Linux 操作系统，成本更低

²  完全整合的参数测试解决方案，可获得全方位的服务和支持

l  应用场景

4080 系列包含两个型号，可根据您的测试要求进行配置。 4082A 参数测试系统可以对成熟、先进的半导体器件执行基本参数测试，并提供了同步和异步并行测试功能。 4082F 闪存单元参数测试系统支持使用高压半导体脉冲发生器（HV-SPGU）模块和 81150A 脉冲发生器来表征闪存单元技术。

l  主要参数

²  最大 SPGU 输出通道数：10 channels

²  最大测量引脚数：48

²  最小电流测量分辨率：1 fa by HRSMU

²  最小电压测量分辨率：2 µV

²  Parallel Parametric Test Capability：否